Métadonnées de suite analytique

Centre géoscientifique de Québec (CGQ): fluorescence X (XRF) (12 éléments)

…

Méthodologie générale:

L’analyse d’une série d’éléments traces (Ba, Cu, Ga, Nb, Ni, Pb, Rb, Sr, V, Y, Zn, Zr) par fluorescence de rayonnement X s’est effectuée sur des pastilles pressées (40 t), préparées par le mélange de 4 g de la fraction < 63 μm avec 1 g de liant (polymère organique).  Les résultats analytiques, obtenus sur un appareil Bausch and Lomb ARL-8420 et corrigés par la méthode de Compton, sont présentés à l’Annexe 2C.

Instrument analytique:

Type de matériel: solide

Poids de l’échantillon: 4000 milligrams

Technique analytique:

Classification hiérarchique

Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence

Sous-catégories

WD-XRF | ED-XRF | pXRF

Décomposition analytique:

Classification hiérarchique

Décomposition >> Aucun

Sous-catégories

Aucun

Méthodes analytiques

Index Classement de la méthode ID de la méthode Grandeur Limite de détection
1  1  3452     Ba_XRF   50
2  2  3453     Cu_XRF   4
3  3  3454     Ga_XRF   3
4  4  3455     Nb_XRF   3
5  5  3456     Ni_XRF   5
6  6  3457     Pb_XRF   5
7  7  3458     Rb_XRF   3
8  8  3459     Sr_XRF   3
9  9  3460     V_XRF   5
10  10  3461     Y_XRF   4
11  11  3462     Zn_XRF   5
12  12  3463     Zr_XRF   3

Forfaits analytiques associés:

Index ID du forfait Nom du forfait
1  82     Centre géoscientifique de Québec XRF + Hg AFS (2 digestions)
Date de modification