Métadonnées de suite analytique

INRS XRF (2)

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Méthodologie générale:

Les analyses des éléments traces par rayonnement de fluorescence X ont été effectuées sur des pastilles de 32 mm de diamètre.  Celles-ci ont été préparées en mélangeant 4 g de la fraction < 0.063 mm de l'échantillon de till avec 1 g de liant (SX) et en agitant ce mélange pendant 15minutes.  Les pastilles sont ensuite fabriquées en soumettant ce mélange à une pression de 40 tonnes pendant 1 minutes.  Les analyses sont faites en utilisant la correction Compton.  Les temps de comptage étaient de 40 secondes sur les pics et sur les fonds et de 20 secondes sur les interférences.  Comme pour l'AANI, les "limites de détection" proposées sont calculées à 2σ.  L'erreur sur les mesures est de ± 5% de la valeur mesurée pour les concentrations supérieures à 10 fois la limite de détection.  Sous ce seuil, le % d'erreur augmente.

Instrument analytique: inconnu

Type de matériel: solide

Poids de l’échantillon: 4000 milligrams

Technique analytique:

Classification hiérarchique

Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence

Sous-catégories

WD-XRF | ED-XRF | pXRF

Décomposition analytique:

Classification hiérarchique

Décomposition >> Aucun

Sous-catégories

Aucun

Méthodes analytiques

Index Classement de la méthode ID de la méthode Grandeur Limite de détection
1  1  3061     Ba_XRF   50
2  2  3062     Co_XRF   2
3  3  3063     Cr_XRF   4
4  4  3064     Cu_XRF   4
5  5  3065     Ga_XRF   2
6  6  3066     Nb_XRF   2
7  7  3067     Ni_XRF   3
8  8  3068     Pb_XRF   5
9  9  3069     Rb_XRF   3
10  10  3070     Sr_XRF   3
11  11  3071     V_XRF   5
12  12  3072     Y_XRF   4
13  13  3073     Zn_XRF   5
14  14  3074     Zr_XRF   3

Forfaits analytiques associés:

Index ID du forfait Nom du forfait
1  12     INRS XRF + INAA (limites de détection élevées)
Date de modification