Métadonnées de suite analytique
INRS XRF (2)
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Méthodologie générale:
Les analyses des éléments traces par rayonnement de fluorescence X ont été effectuées sur des pastilles de 32 mm de diamètre. Celles-ci ont été préparées en mélangeant 4 g de la fraction < 0.063 mm de l'échantillon de till avec 1 g de liant (SX) et en agitant ce mélange pendant 15minutes. Les pastilles sont ensuite fabriquées en soumettant ce mélange à une pression de 40 tonnes pendant 1 minutes. Les analyses sont faites en utilisant la correction Compton. Les temps de comptage étaient de 40 secondes sur les pics et sur les fonds et de 20 secondes sur les interférences. Comme pour l'AANI, les "limites de détection" proposées sont calculées à 2σ. L'erreur sur les mesures est de ± 5% de la valeur mesurée pour les concentrations supérieures à 10 fois la limite de détection. Sous ce seuil, le % d'erreur augmente.
Instrument analytique: inconnu
Type de matériel: solide
Poids de l’échantillon: 4000 milligrams
Technique analytique:
Classification hiérarchique
Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence
Sous-catégories
Décomposition analytique:
Classification hiérarchique
Sous-catégories
Aucun
Méthodes analytiques
Index | Classement de la méthode | ID de la méthode | Grandeur | Limite de détection |
---|---|---|---|---|
1 | 1 | 3061 | Ba_XRF | 50 |
2 | 2 | 3062 | Co_XRF | 2 |
3 | 3 | 3063 | Cr_XRF | 4 |
4 | 4 | 3064 | Cu_XRF | 4 |
5 | 5 | 3065 | Ga_XRF | 2 |
6 | 6 | 3066 | Nb_XRF | 2 |
7 | 7 | 3067 | Ni_XRF | 3 |
8 | 8 | 3068 | Pb_XRF | 5 |
9 | 9 | 3069 | Rb_XRF | 3 |
10 | 10 | 3070 | Sr_XRF | 3 |
11 | 11 | 3071 | V_XRF | 5 |
12 | 12 | 3072 | Y_XRF | 4 |
13 | 13 | 3073 | Zn_XRF | 5 |
14 | 14 | 3074 | Zr_XRF | 3 |
Forfaits analytiques associés:
Index | ID du forfait | Nom du forfait |
---|---|---|
1 | 12 | INRS XRF + INAA (limites de détection élevées) |
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