Métadonnées de suite analytique

INRS XRF (1)

…

Méthodologie générale:

Les analyses des éléments traces par rayonnement de fluorescence X ont été effectuées sur des pastilles de 32 mm de diamètre.  Celles-ci ont été préparées en mélangeant 4 g de la fraction < 0.063 mm de l'échantillon de till avec 1 g de liant (SX) et en agitant ce mélange pendant 10 minutes.  Les pastilles sont ensuite fabriquées en soumettant ce mélange à une pression de 40 tonnes pendant 2 minutes.  Les analyses sont faites en utilisant la correction Compton.

Instrument analytique: inconnu

Type de matériel: solide

Poids de l’échantillon: 4000 milligrams

Technique analytique:

Classification hiérarchique

Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence

Sous-catégories

WD-XRF | ED-XRF | pXRF

Décomposition analytique:

Classification hiérarchique

Décomposition >> Aucun

Sous-catégories

Aucun

Méthodes analytiques

Index Classement de la méthode ID de la méthode Grandeur Limite de détection
1  1  3047     Ba_XRF   50
2  2  3048     Co_XRF   2
3  3  3049     Cr_XRF   4
4  4  3050     Cu_XRF   4
5  5  3051     Ga_XRF   2
6  6  3052     Nb_XRF   2
7  7  3053     Ni_XRF   3
8  8  3054     Pb_XRF   5
9  9  3055     Rb_XRF   3
10  10  3056     Sr_XRF   3
11  11  3057     V_XRF   5
12  12  3058     Y_XRF   4
13  13  3059     Zn_XRF   5
14  14  3060     Zr_XRF   3

Forfaits analytiques associés:

Index ID du forfait Nom du forfait
1  11     INRS XRF + INAA (limites de détection basses)
Date de modification