Métadonnées de méthode analytique
V - WD-XRF - NONE
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Grandeur: | Vanadium |
| Unités: | ppm |
| Description: | |
| Limite de détermination: | 4 ppm |
| Limite supérieure de détermination: | |
| Précision analytique: | |
| Groupe analytique: | V | NONE | WD-XRF |
Technique analytique:
Classification hiérarchique
Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence >> WD-XRF
Sous-catégories
Aucun
Décomposition analytique:
Classification hiérarchique
Sous-catégories
Aucun
Suites analytiques associés
| Index | ID de la suite | Nom de la suite |
|---|---|---|
| 1 | 620 | Laboratoire géoscientifique, (OGS) MRD123 Base de données lithogéochimique: wavelength-dispersive XRF des pastilles de poudre pressée |
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