Métadonnées de méthode analytique
SiO2 - XRAY_FLUOR - NONE
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Grandeur: | Dioxyde de silice |
| Unités: | pourcent |
| Description: | |
| Limite de détermination: | 0.01 pourcent |
| Limite supérieure de détermination: | 99.99 pourcent |
| Précision analytique: | |
| Groupe analytique: | SiO2 | NONE | XRAY_FLUOR |
Technique analytique:
Classification hiérarchique
Technique >> Spectroscopie >> Rayonnement électromagnétique >> Rayon X >> Luminescence >> Fluorescence
Sous-catégories
Décomposition analytique:
Classification hiérarchique
Sous-catégories
Aucun
Suites analytiques associés
| Index | ID de la suite | Nom de la suite |
|---|---|---|
| 1 | 321 | CGO Laboratoires géoscientifiques, suite XRF-M01 |
- Date de modification